Cristalografía y difracción de rayos X: Académico USM se suma a importante organización internacional

Académico USM se suma a organización internacional en el campo de la cristalografía y difracción de rayos X El profesor del Departamento de Ingeniería Metalúrgica y Materiales, Claudio Aguilar, es en la actualidad el único representante chileno en el International Centre for Diffraction Data, ICDD, y forma parte de tres subcomités técnicos dentro de la … Sigue leyendo Cristalografía y difracción de rayos X: Académico USM se suma a importante organización internacional